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FM-Nanoview1000AFM 分体式原子力显微镜 带光学定位的CCD观测系统,实时观测与定位探针样品扫描区域

SKU: FM-1000AFM

产品介绍

 FM-Nanoview1000AFM 主要功能特点

  •  扫描探头和样品台集成一体,抗干扰能力强;
  •  精密激光及探针定位装置,更换探针及调节光斑简单方便;
  •  采用样品趋近探针方式,使针尖垂直于样品扫描;
  •  马达自动脉冲控制驱动样品垂直接近探针,实现扫描区域精确定位;
  •  高精度样品移动装置,可自由移动感兴趣的样品扫描区域;
  •  带光学定位的CCD观测系统,实时观测与定位探针样品扫描区域;
  •  模块化的电子控制系统设计,便于电路的持续改进与维护;
  •  集成多种扫描工作模式控制电路,配合软件系统使用;
  •  弹簧悬挂式防震方式,简单实用,抗干扰能力强。
 
友好的软件界面和操作功能
 
1000型操作界面-13535340797.png
 
 
1. 多通道图像同步采集显示,实时查看剖面图;
2. 多种曲线力-间距(F-Z)、频率-RMS(f-RMS)、RMS-间隙(RMS-Z)测量功能;
3. 可进行扫描区域偏移、剪切功能,任意选择感兴趣的样品区域;
4. 可任意选择样品起始扫描角度;
5. 激光光斑检测系统的实时调整功能;
6. 针尖共振峰自动和手动搜索功能;
7. 可任意定义扫描图像的色板功能;
8. 支持样品倾斜线平均、偏置实时校正功能;
9. 支持扫描器灵敏度校正和电子学控制器自动校正;
 
FSM-AFM操作软件主要功能特点
 
1、可实时观测样品扫描时的表面形貌像、振幅像和相位像;
2、具备接触、轻敲、相位、摩擦力、磁力或静电力工作模式;
3、可自由选择图像采样点为256×256或512×512;
4、多通道图像同步采集显示,实时查看剖面图;
5、多种曲线力-间距(F-Z)、频率-RMS(f-RMS)、RMS-间隙(RMS-Z)测量功能;
6、可进行扫描区域偏移、剪切功能,任意选择感兴趣的样品区域;
7、可任意选择样品起始扫描角度;
8、激光光斑检测系统的实时调整功能;
9、针尖共振峰自动和手动搜索功能;
10、可任意定义扫描图像的色板功能;
11、支持样品倾斜线平均、偏置实时校正功能;
12、支持扫描器灵敏度校正和电子学控制器自动校正;
13、支持样品图片离线分析与处理功能。
 
原子力显微镜广泛的应用
 
1000广泛应用-13535920481.jpg

技术参数

序号 名 称 参 数
01 工作模式 接触、摩擦力(可选配轻敲、相位、磁力、静电力)
02 样品尺寸 Φ≤90mm;H≤20mm
03 最大扫描范围 横向20um,纵向2um
04 扫描分辨率 横向0.2nm,纵向0.05nm
05 扫描速率 0.6Hz~4.34Hz
06 扫描控制 XY采用18-bit D/A,Z采用16-bit D/A
07 数据采样 14-bit A/D、双16-bit A/D多路同步采样
08 扫描角度 任意
09 样品移动范围 0~20mm
10 马达趋近脉冲宽度 10±2ms
11 光学放大倍数 4X
12 光学分辨率 2.5um
13 图像采样点 256×256,512×512
14 反馈方式 DSP数字反馈
15 反馈采样速率 64.0KHz
16 计算机接口 USB2.0
17 运行环境 运行于Windows98/2000/XP/7/8操作系统

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