介绍原子力显微镜(AFM)

初识原子力显微镜

余忆童幼时,能张目对日,明察秋毫

见貌小微物,必细察其纹理,故时有物外之趣

        --  儿时记忆 沈复

纵观古今所有的发明无一不是对自然现象的观察,进而触发灵感再经研究发展而生新事物,由此凸显"观察"的重要性.随着科技的发展进入到纳米世界领域,而"观察"这项工作也渐渐远超过肉眼,放大镜,光学显微镜等仪器所能负荷的范围.所以原子力显微镜(AFM)相应而生.

AFM简介

1. 全名 Atomic force microscope 简称AFM

2.1986年由G.Bining,C.F. Quate和C.Gerber共同发明

3.原子力显微镜(AFM)与扫描隧道显微镜(STM)最大的差别在于并非利用原子隧道效应,而是利用原子之间的凡得瓦力(Van Der Waals Force)作用来呈现样品的表明特征.

原子力显微镜的分类

原子力显微镜大致分为三类: 1.接触式 2.非接触式 3.敲击式 

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