| 首页 > 显微镜 > 体视显微镜 > TZ660AM电动变倍自动对焦显微镜晶圆芯片表面缺陷检测 |
TZ660AM电动变倍自动对焦显微镜晶圆芯片表面缺陷检测 高清4K电动变倍镜头,配套高清自动对焦相机,支持HDMI,USB,以及网口输出,支持二次开发
产品介绍一、产品概述 TZ660AM电动连续变倍自动对焦显微镜采用全高清4K复消色差连续变倍光学镜头,消除色差和球差,获得高对比度、高分辨率显微图像。搭配自动对焦相机800万像素成像系统,电动变倍,USB或千兆网口接电脑实现自动对焦,同步画面HDMI自动对焦,景深融合、图片拼接等图片分析,软件可二次开发,提供SDK。适用于晶圆、芯片表面电路和缺陷检测;金属、玻璃表面的划痕、瑕疵检查;PCB焊盘和线路检查;材料科学表面结构分析。 二、性能特点 1、光学系统:复消色差光学系统。 2、照明系统:透反射照明。 3、光学镜头:高清4K连续变倍镜头。 4、软件支持二次开发。 5、配套高清自动对焦相机,支持HDMI,USB,以及网口输出,相机配套专业图像测量软件,支持各种测量方式。 三、显微镜参数
|
![]() |
XTD-7045双目连续变倍体视显微镜 |
![]() |
SVB-7045A三目万向体视显微镜 |
||||
![]() |
DTX系列单筒视频体视显微镜 |
![]() |
SRD-2040双目定倍体视显微镜 |
||||
![]() |
SZ66研究级体视显微镜 科研级三目体视显微镜,立体显微镜,检测显微镜 |
![]() |
SVA-7045双目万向体视显微镜 |
||||
| 首页 > 显微镜 > 体视显微镜 > TZ660AM电动变倍自动对焦显微镜晶圆芯片表面缺陷检测 |