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双探头表面三维形貌分析系统
产品介绍产品介绍： 采用彩色激光共焦技术，可实现对材料表面微米、次微米级粗糙度检测，并且可以进行2D轮廓/3D微观形貌扫描分析，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点。 该系统可用于测量大尺寸样品，软件功能含括了点测量、线测量、面测量等强大的功能，可选模块包括2D&3D粗糙度检测与分析、2D轮廓测量与3D形貌分析、平面度检测、共面度检测、平行度检测等。 本系统特点： 一、采用传动装置：直线磁轴电机驱动 二、专业集成设计 三、丰富的三维计测 四、多样的三维观察
技术参数技术参数：
电动台参数：
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FM-AR532/AR785原子力显微镜与激光拉曼光谱仪一体机 对纳米材料表面形貌、颗粒度、粗糙度和拉曼光谱性能进行表征、分析 |
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FM-Nanoview1000AFM 分体式原子力显微镜 带光学定位的CCD观测系统，实时观测与定位探针样品扫描区域 |
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FM-Nanoview6800一体式原子力显微镜 开启全民原子力显微镜时代，扫描范围更广，定位更精确 |
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自由曲面三维面型检测系统 |
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原子力显微镜（环境控制型）FM-Nanoview EC-AFM |
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原子力显微镜光学一体机 FM-Nanoview Op-AFM |
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